下图是测量带电粒子质量的仪器工作原理示意图。设法是某有机化合物的气态分子导入图中所示的容器A中,使它受到电子束轰击,失去一个电子变成正一价的分子离子。分子离子从狭缝s1以很小的速度进入电压为U的加速电场区(初速不计),加速后,再通过狭缝s2、s3射入磁感强度为B的匀强磁场,方向垂直于磁场区的界面PQ。最后,分子离子打到感光片上,形成垂直于纸面而且平行于狭缝s3的细线。若测得细线到狭缝s3的距离为d
0 86277 86285 86291 86295 86301 86303 86307 86313 86315 86321 86327 86331 86333 86337 86343 86345 86351 86355 86357 86361 86363 86367 86369 86371 86372 86373 86375 86376 86377 86379 86381 86385 86387 86391 86393 86397 86403 86405 86411 86415 86417 86421 86427 86433 86435 86441 86445 86447 86453 86457 86463 86471 176998
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(1)导出分子离子的质量m的表达式。
(2)根据分子离子的质量数M可用推测有机化合物的结构简式。若某种含C、H和卤素的化合物的M为48,写出其结构简式。
(3)现有某种含C、H和卤素的化合物,测得两个M值,分别为64和66。试说明原因,并写出它们的结构简式。
在推测有机化合物的结构时,可能用到的含量较多的同位素的质量数如下表:
|
元 素 |
H |
C |
F |
Cl |
Br |
|
含量较多的同 位素的质量数 |
1 |
12 |
19 |
35,37 |
79,81 |