题目内容

下图是测量带电粒子质量的仪器工作原理示意图。设法是某有机化合物的气态分子导入图中所示的容器A中,使它受到电子束轰击,失去一个电子变成正一价的分子离子。分子离子从狭缝s1以很小的速度进入电压为U的加速电场区(初速不计),加速后,再通过狭缝s2、s3射入磁感强度为B的匀强磁场,方向垂直于磁场区的界面PQ。最后,分子离子打到感光片上,形成垂直于纸面而且平行于狭缝s3的细线。若测得细线到狭缝s3的距离为d

(1)导出分子离子的质量m的表达式。

(2)根据分子离子的质量数M可用推测有机化合物的结构简式。若某种含C、H和卤素的化合物的M为48,写出其结构简式。

(3)现有某种含C、H和卤素的化合物,测得两个M值,分别为64和66。试说明原因,并写出它们的结构简式。

在推测有机化合物的结构时,可能用到的含量较多的同位素的质量数如下表:

元  素

H

C

F

Cl

Br

含量较多的同

位素的质量数

1

12

19

35,37

79,81

                                                  

 

答案:
解析:

(1)求分子离子的质量

以m、q表示离子的质量电量,以v表示离子从狭缝s2射出时的速度,由功能关系可得

                  ①

射入磁场后,在洛仑兹力作用下做圆周运动,由牛顿定律可得

                          ②

式中R为圆的半径。感光片上的细黑线到s3缝的距离

d=2R                                ③

解得

                          ④

(2)CH3CH2F

(3)从M的数值判断该化合物不可能含Br而只可能含CI,又因为Cl存在两个含量较多同位素,即35Cl和37Cl,所以测得题设含C、H和卤素的某有机化合物有两个M值,其对应的分子结构简式为CH3CH235Cl  M=64;CH3CH237Cl  M=66

 


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