题目内容

下列有关说法正确的是(  )
A、相同类型的离子晶体,晶格能越大,形成的晶体越稳定
B、中心原子的杂化方式取决于其配位原子的数目
C、用金属的电子气理论能合理的解释金属易腐蚀的原因
D、H3O+、NH4Cl和[Ag(NH32]+中均存在配位键
考点:用晶格能的大小衡量离子晶体中离子键的强弱,配合物的成键情况,金属键的涵义,原子轨道杂化方式及杂化类型判断
专题:
分析:A、在离子晶体,晶格能越大,形成的晶体越稳定;
B、中心原子的杂化方式取决于价电子数和配位原子数;
C、用金属的电子气理论只能解释金属的物理性质,不能解释金属易腐蚀;
D、H3O+中H和O,NH4Cl中N和H、[Ag(NH32]+中Ag和N存在配位键.
解答: 解:A、在离子晶体,晶格能越大,形成的晶体越稳定,故A正确;
B、中心原子的杂化方式取决于价电子数和配位原子数,两者共同决定,故B错误;
C、用金属的电子气理论只能解释金属的物理性质,不能解释金属易腐蚀是化学性质,故C错误;
D、H3O+中H和O,NH4Cl中N和H、[Ag(NH32]+中Ag和N存在配位键,故D正确;
故选AD.
点评:本题考查晶格能的大小、中心原子的杂化方式和配位键的相关知识,考查的知识点多,但比较容易.
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