题目内容
质谱仪是测定带电粒子质量和分析同位素重要工具。如图所示为质谱仪的原理示意图,现利用这种质谱议对氢元素进行测量。氢元素的各种同位素从容器A下方的小孔S无初速度飘入电势差为U的加速电场,加速后垂直进入磁感强度为B的匀强磁场中。氢的三种同位素氕、氘、氚的电量之比为1:1:1,质量之比为1:2:3,它们最后打在照相底片D上,形成a、b、c三条“质谱线”。则三种同位素进入磁场时速度 ___________,a、b、c三条“质谱线”的排列顺序依次是___________。 |
|
A. ;氚、氘、氕B. ;氕、氘、氚 C. ;氚、氘、氕 D. ;氕、氘、氚 |
试题答案
A
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(1)在时间t内射到照相底片P上的离子的数目为多少?
(2)单位时间穿过入口处S1离子束流的能量为多少?
(3)试证明这种离子的质量为m=
| qB2 | 8U |
(1)在时间t内到达照相底片P上的离子的数目为多少?
(2)单位时间内穿过入口S1处离子流的能量为多大?
(3)试求这种离子的质量m?.
(1)求该离子的比荷卫
| q | m |
(2)若离子源产生的是带电量为q、质量为m1和m2的同位素离子(m1>m2),它们分别到达照相底片上的P1、P2位置(图中末画出),求P1、P2间的距离△x.
(3)若第(2)小题中两同位素离子同时进入加速电场,求它们到达照相底片上的时间差△t(磁场边界与靠近磁场边界的极板间的距离忽略不计).
| qdB1B2△ R |
| 2U |
| qdB1B2△ R |
| 2U |
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| q |
| m |
| A、 |
| B、 |
| C、 |
| D、 |
质谱仪是一种测定带电粒子质量和分析同位素的重要工具,它的构造原理如图2-1所示.离子源S产生质量为m、电量为q的正离子,离子产生出来时速度很小,可以看作速度为零.产生的离子经过电压U加速,进入磁感强度为B的匀强磁场,沿着半圆周运动,到达记录它的照相底片上的P点.测得P点到入口处
的距离为x.试求离子的质量m.?
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图2-1
查看习题详情和答案>>质谱仪是一种测定带电粒子质量和分析同位素的重要工具,它的构造原理如图所示。离子源S产生质量为m、带电量为q的某种正离子,离子产生出来时速度很小,可以看作是静止的。粒子从容器A下方小孔S1飘入电势差为U的加速电场,然后经过小孔S2和S3后沿着与磁场垂直的方向进入磁感应强度为B的匀强磁场中,最后打到照相底片D上。
(1)小孔S1和S2处的电势比较,哪处的高?
在小孔S1和S2处的电势能,哪处高?如果容器A接地且电势为0,则小孔S1和S2处的电势各为多少?(设小孔极小,其电势和小孔处的电极板的电势相同)
(2)求粒子进入磁场时的速率和粒子在磁场中运动的轨道半径。
(3)如果从容器下方的S1小孔飘出的是具有不同的质量的带电量为q的正离子,那么这些粒子打在照相底片的同一位置,还是不同位置?如果是不同位置,那么质量分别为
的粒子在照相底片的排布等间距吗?写出说明。
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___________,a、b、c三条“质谱线”的排列顺序依次是___________。
;氚、氘、氕
;氕、氘、氚
;氚、氘、氕
;氕、氘、氚