图所示是测量带电粒子质量的仪器工作原理示意图,设法使某有机化合物的气态分子导入图中所示的容器A中,使它受到电子束轰击,失去一个电子变成为正一价的分子离子,分子离子从狭缝S1以很小的速度进入电压为U的加速电场区(初速不计),加速后,再通过狭缝S2、S3射入磁感应强度为B的匀强磁场,方向垂直于磁场区的界面PQ.最后,分子离子打到感光片上,形成垂直于纸面且平行于狭缝S2的细线,若测得细线到狭缝S3的距离为d.
0 86218 86226 86232 86236 86242 86244 86248 86254 86256 86262 86268 86272 86274 86278 86284 86286 86292 86296 86298 86302 86304 86308 86310 86312 86313 86314 86316 86317 86318 86320 86322 86326 86328 86332 86334 86338 86344 86346 86352 86356 86358 86362 86368 86374 86376 86382 86386 86388 86394 86398 86404 86412 176998
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(1)导出分子、离子的质量m的表达式.
(2)根据分子离子的质量数M可以推测有机化合物的结构简式,若某种含C、H和卤素的化合物的M为48,写出其结构简式.
(3)现有某种含C、H和卤素的化合物,测得两个M值,分别为64和66,试说明原因,并写出它们的结构简式.在推测有机化合物的结构时,可能用到的含量较多的同位素的质量数如下表:
|
元素 |
H |
C |
F |
C1 |
Br |
|
含量较多的同 位素的质量数 |
1 |
12 |
19 |
35,37 |
79,81 |