Question

【题目】CS史密斯在1954年对硅和锗的电阻率与应力变化特性测试中发现，当受到应力作用时电阻率发生变化．这种由于外力的作用而使材料电阻率发生变化的现象称为“压阻效应”．压阻效应被用来制成各种压力、应力、应变、速度、加速度传感器，把力学量转换成电信号，半导体压阻传感器已经广泛地应用于航空、化工、航海、动力和医疗等部门．某兴趣小组在研究某长薄板电阻Rx的压阻效应时，找到了如图所示器材（已知Rx的阻值变化范围大约为几欧到几十欧）：

A．电源E（3V，内阻约为1Ω）
B．电流表A1（0.6A，内阻r1=5Ω）
C．电流表A2（0.6A，内阻r2约为1Ω）
D．开关S，定值电阻R0
（1）为了比较准确地测量电阻Rx的阻值，请根据所给器材画出合理的实物连接图（部分导线已画出，电表A1、A2已标出）；
（2）在电阻Rx上加一个竖直向下的力F时，闭合开关S，A1的示数为I1 ， A2的示数为I2 ， 则Rx=（用字母表示）；
（3）Rx与压力F的关系如图l所示，某次测量时电表A1、A2的示数分别如图2、图3所示，则这时加在薄板电阻Rx上的压力为 N．

Answer 1

【答案】
（1）

解：测电阻阻值需要测出电阻两端电压与通过电阻的电流，实验给出两个电流表，可以用已知内阻的电流表与待测电阻并联，实验可以不使用电压表，测出电阻两端电压，另一个电流表串联在电路中测电路电流，电路图如图所示：

（2）
（3）1.5
【解析】解：（1）测电阻阻值需要测出电阻两端电压与通过电阻的电流，实验给出两个电流表，可以用已知内阻的电流表与待测电阻并联，实验可以不使用电压表，测出电阻两端电压，另一个电流表串联在电路中测电路电流，电路图如图所示：

（2.）电阻两端电压U=I1r1 ， 通过电阻的电流I=I2﹣I1 ， 电阻阻值RX= = ；（3）由图3所示电流表可知，其分度值为0.02A，示数：I1=0.26A，由图4所示电流表可知，其分度值为0.02A，示数为：I2=0.36A，
电阻阻值：Rx= = =13Ω，由图2所示图像可知，Rx=13Ω时压力F=1.5N；
所以答案是：（1）电路图如图所示；（2） ；（3）1.5．