题目内容
如图是质谱仪的工作原理示意图.带电粒子被加速电场加速后,进入速度选择器.速度选择器内相互正交的匀强磁场和匀强电场的强度分别为B和E.平板S上有可让粒子通过的狭缝 P和记录粒子位置的胶片A1A2.平板S下方有强度为B0的匀强磁场.下列表述不正确的是( )
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试题答案
D
| A、速度选择器中的磁场方向垂直纸面向里 | ||
B、能通过狭缝P的带电粒子的速率等于
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C、比荷(
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D、粒子从P点运动到胶片A1A2的时间为
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| A、质谱仪是分析同位素的重要工具 | B、速度选择器中的磁场方向垂直纸面向里 | C、能通过狭缝P的带电粒子的速率等于E/B | D、粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P,粒子的比荷(q/m)越大 |
如图是质谱仪的工作原理示意图.带电粒子被加速电场加速后,进入速度选择器.速度选择器内相互正交的匀强磁场和匀强电场的强度分别为B和E,平板S上有可让粒子通过的狭缝P和记录粒子位置的胶片A1A2.平板S下方有强度为B0的匀强磁场.下列表述正确的是( )![]()
| A.质谱仪是分析同位素的重要工具 |
| B.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外 |
| C.能通过狭缝P的带电粒子的速率等于E/B |
| D.粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P,粒子的比荷(q/m)越小 |
如图是质谱仪的工作原理示意图.带电粒子被加速电场加速后,进入速度选择器.速度选择器内相互正交的匀强磁场和匀强电场的强度分别为B和E.平板S上有可让粒子通过的狭缝P和记录粒子位置的胶片A1A2.平板S下方有强度为B0的匀强磁场.下列表述不正确的是( )
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A.质谱仪是分析同位素的重要工具
B.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外
C.能通过的狭缝P的带电粒子的速率等于E/B
D.粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P,粒子的比荷越小
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如图是质谱仪的工作原理示意图.带电粒子被加速电场加速后,进入速度选择器.速度选择器内相互正交的匀强磁场和匀强电场的强度分别为B和E.平板S上有可让粒子通过的狭缝P和记录粒子位置的胶片A1A2.平板S下方有磁感应强度为B0的匀强磁场.下列表述正确的是( )
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A.质谱仪是一种测量带电粒子的质量和分析同位素的重要工具
B.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外
C.能通过狭缝P的带电粒子的速率等于![]()
D.粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P,粒子的荷质比越小
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如图是质谱仪的工作原理示意图.带电粒子被加速电场加速后,进入速度选择器。速度选择器内相互正交的匀强磁场和匀强电场的强度分别为B和E,平板S上有可让粒子通过的狭缝P和记录粒子位置的胶片A1A2.平板S下方有磁感应强度为B0的匀强磁场.下列说法正确的是( )
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A.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向里
B.能通过狭缝P的带电粒子的速率等于B / E
C.比荷(q/m)越大的粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P
D.粒子从P点运动到胶片A1A2的时间为2πm/qB0
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如图是质谱仪的工作原理示意图.带电粒子被加速电场加速后,进入速度选择器。速度选择器内匀强磁场和匀强电场的方向相互垂直,磁感应强度为B,电场强度为E,平板S上有可让粒子通过的狭缝P和记录粒子位置的胶片A1A2,平板S下方有磁感应强度为B0的匀强磁场,下列表述正确的是
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A.质谱仪是分析同位素的重要工具
B.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向内
C.能通过狭缝P的带电粒子的速率等于![]()
D.粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P,粒子的比荷(
)越小
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如图是质谱仪的工作原理示意图.带电粒子被加速电场加速后,进入速度选择器。速度选择器内相互正交的匀强磁场和匀强电场的强度分别为B和E,平板S上有可让粒子通过的狭缝P和记录粒子位置的胶片A1A2.平板S下方有磁感应强度为B0的匀强磁场.下列说法正确的是( )
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A.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向里
B.能通过狭缝P的带电粒子的速率等于B / E
C.比荷(q/m)越大的粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P
D.粒子从P点运动到胶片A1A2的时间为2πm/qB0
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如图是质谱仪的工作原理示意图.带电粒子被加速电场加速后,进入速度选择器.速度选择器内相互正交的匀强磁场和匀强电场的强度分别为B和E.平板S上有可让粒子通过的狭缝P和记录粒子位置的胶片A1A2.平板S下方有强度为B0的匀强磁场.下列表述不正确的是( )![]()
| A.质谱仪是分析同位素的重要工具 |
| B.速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外 |
| C.能通过的狭缝P的带电粒子的速率等于E/B |
| D.粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P,粒子的比荷越小 |