（a＞b＞0）与双曲线
（m＞0，n＞0）有相同的焦点（-c，0）和（c，0），若c是a、m的等比中项，n2是2m2与c2的等差中项，则椭圆的离心率是（ ）
，n=
，点P（x，y）在y=sin x的图象上运动，点Q在y=f（x）的图象上运动，且满足（x，f（x））=m?n（其中O为坐标原点），则y=f（x）的最大值A及最小正周期T分别（ ）
，4π
，π
表示的平面区域内可行解的个数，则f（1）= ；f（2）= ；f （n）= 
与圆C：x2+y2=a（a＞0）相离．
（x＞0）的最小值为 ．
对一个作直线运动的质点的运动过程观测了8次，第i次观测得到的数据为ai，具体如下表所示：
在对上述统计数据的分析中，一部分计算见如图所示的算法流程图（其中
是这8个数据的平均数），则输出的S的值是 ．
| 观测次数i | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 |
| 观测数据ai | 40 | 41 | 43 | 43 | 44 | 46 | 47 | 48 |
是这8个数据的平均数），则输出的S的值是 ．
某工厂对200个电子元件的使用寿命进行检查，按照使用寿命（单位：h），可以把这批电子元件分成第一组[100，200]，第二组（200，300]，第三组（300，400]，第四组（400，500]，第五组（500，600]，第六组（600，700]，由于工作不慎将部分数据丢失，现有以下图表．
（1）求图2中的A及表格中的B，C，D，E，F，G，H，I的值；
（2）求上图中阴影部分的面积；
（3）若电子元件的使用时间超过300 h，则为合格产品，求这批电子元件合格的概率．
0 110200 110208 110214 110218 110224 110226 110230 110236 110238 110244 110250 110254 110256 110260 110266 110268 110274 110278 110280 110284 110286 110290 110292 110294 110295 110296 110298 110299 110300 110302 110304 110308 110310 110314 110316 110320 110326 110328 110334 110338 110340 110344 110350 110356 110358 110364 110368 110370 110376 110380 110386 110394 266669
（1）求图2中的A及表格中的B，C，D，E，F，G，H，I的值；
（2）求上图中阴影部分的面积；
（3）若电子元件的使用时间超过300 h，则为合格产品，求这批电子元件合格的概率．
| 分组 | [100，200] | （200，300] | （300，400] | （400，500] | （500，600] | （600，700] |
| 频数 | B | 30 | E | F | 20 | H |
| 频率 | C | D | 0.2 | 0.4 | G | I |
，b+c=4，求△ABC的面积．
如图所示，正四棱锥P-ABCD中，侧棱PA与底面ABCD所成的角的正切值为
．