题目内容

【题目】图甲是用光的干涉法来检查物体平面平整程度的装置,其中A为标准平板,B为被检查其平面的物体,C为入射光,图乙和图丙分别为两次观察到的干涉条纹,下列说法正确的是

A.入射光C应采用单色光

B.图示条纹是由A的下表面反射光和B的上表面反射光发生干涉形成的

C.AB之间某处距离为入射光的半波长奇数倍时,对应条纹是暗条纹

D.若所观察的条纹是图乙,被检查表面上有洞状凹陷

E.若所观察的条纹是图丙,被检查表面上有沟状凹陷

【答案】ABE

【解析】

A.入射光C应采用单色光,波长一定,不会出现干涉条纹重合,故A正确;

B.薄膜干涉形成的条纹是膜的上下表面的发射光干涉产生,故B正确;

C.当AB之间某处上下反射光的光程差为入射光的半波长奇数倍时,对应条纹是暗条纹,故C错误;

D.薄膜干涉是等厚干涉,即明条纹处空气膜的厚度相等,明条纹右偏说明被检查表面上有凸起,故D错误;

E.薄膜干涉是等厚干涉,即明条纹处空气膜的厚度相等,明条纹左偏说明被检查表面上有凹陷,故E正确。

故选ABE

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