题目内容
【题目】图甲是用光的干涉法来检查物体平面平整程度的装置,其中A为标准平板,B为被检查其平面的物体,C为入射光,图乙和图丙分别为两次观察到的干涉条纹,下列说法正确的是 。
A.入射光C应采用单色光
B.图示条纹是由A的下表面反射光和B的上表面反射光发生干涉形成的
C.当AB之间某处距离为入射光的半波长奇数倍时,对应条纹是暗条纹
D.若所观察的条纹是图乙,被检查表面上有洞状凹陷
E.若所观察的条纹是图丙,被检查表面上有沟状凹陷
【答案】ABE
【解析】
A.入射光C应采用单色光,波长一定,不会出现干涉条纹重合,故A正确;
B.薄膜干涉形成的条纹是膜的上下表面的发射光干涉产生,故B正确;
C.当AB之间某处上下反射光的光程差为入射光的半波长奇数倍时,对应条纹是暗条纹,故C错误;
D.薄膜干涉是等厚干涉,即明条纹处空气膜的厚度相等,明条纹右偏说明被检查表面上有凸起,故D错误;
E.薄膜干涉是等厚干涉,即明条纹处空气膜的厚度相等,明条纹左偏说明被检查表面上有凹陷,故E正确。
故选ABE。
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