摘要：36．如图甲所示.abcd为导体做成的框架.其平面与水平面成θ角.质量为m的导体棒PQ与ad.bc接触良好.回路的总电阻为R.整个装置放在垂直于框架平面的变化磁场中.磁场的磁感应强度B随时间t变化情况如图乙所示(设图甲中B的方向为正方向).若PQ始终静止.关于PQ与框架间的摩擦力在 0~t1时间内的变化情况.有如下判断 ( ) 甲 乙 ①一直增大 ②一直减小 ③先减小后增大 ④先增大后减小 以上对摩擦力变化情况的判断可能的是 A．①④ B．①③ C．②③ D．②④ 第Ⅱ卷
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如图甲所示，abcd为导体做成的框架，其平面与水平面成θ角．质量为m的导体棒PQ与ad、bc接触良好，回路的总电阻为R．整个装置放在垂直于框架平面的变化磁场中，磁场的磁感应强度B随时间t变化情况如图乙所示（设图甲中B的方向为正方向）．若PQ始终静止，关于PQ与框架间的摩擦力在 0～t1时间内的变化情况，有如下判断①一直增大
②一直减小
③先减小后增大
④先增大后减小
以上对摩擦力变化情况的判断可能的是（ ）
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如图甲所示，abcd为导体做成的框架，其平面与水平面成θ角，质量为m的导体棒PQ与ab、cd接触良好，回路总电阻为R，整个装置放在垂直于框架平面的变化的磁场中，磁场的磁感应强度变化如图乙所示，PQ始终静止.关于PQ与ab、cd间的摩擦力Ff在0到t1（s）内的变化情况的说法中，可能正确的是（ ）
A.Ff一直增大 B.Ff一直减小
C.Ff先减小后增大 D.Ff先增大后减小
如图甲所示，abcd为导体做成的框架，其平面与水平面成θ角，质量为m的导体棒PQ与ab、cd接触良好，回路的总电阻为R，整个装置放在垂直于框架平面的变化磁场中，磁场的磁感应强度B的变化情况如图乙所示（取图中B的方向为正方向）．而PQ始终保持静止．则下列关于PQ与框架间的摩擦力在时间0～t1内的变化情况的说法中，有可能正确的是（ ）
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| A．一直不变 | B．一直减小 |
| C．先减小，后增大 | D．先增大，后减小 |
