题目内容

【题目】霍尔元件可以用来检测磁场及其变化,测量霍尔元件所处区域的磁感应强度B的实验电路如图所示:

1制造霍尔元件的半导体参与导电的自由电荷带负电,电流从乙图中霍尔元件左侧流入,右侧流出,所测磁场的方向竖直向下,霍尔元件 表面电势高;

2已知霍尔元件单位体积内自由电荷数为n,每个自由电荷的电荷量为q,霍尔元件长为a,宽为b,高为h,为测量霍尔元件所处区域的磁感应强度B,还必须测量的物理量有 写出具体的物理量名称及其符号,计算式B=

【答案】1前;2必须测量的物理量有:电压表读数U,电流表读数I;

【解析】

试题分析:1磁场是直线电流产生,根据安培定则,磁场方向向下;电流向右,根据左手定则,安培力向内,载流子是负电荷,故后表面带负电,前表面带正电,故前表面电势较高;

2前后表面的厚度为a,最终电子在电场力和洛伦兹力的作用下处于平衡,有:

根据电流微观表达式,有:I=neSv=nqbhv

联立解得:故还必须测量的物理量有:电压表读数U,电流表读数I;

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