题目内容
20．能够解释CO2比SiO2的熔、沸点低的原因是（ ）| A． | CO2的相对分子质量比SiO2的相对分子质量小 | |
| B． | C-O键能小于Si-O键能 | |
| C． | C的原子半径小于Si | |
| D． | 破坏CO2晶体只需克服分子间作用力，破坏SiO2晶体要破坏Si-O共价键 |
分析 根据CO2与SiO2形成的晶体类型进行解答，CO2是分子晶体，SiO2是原子晶体，原子晶体的熔点高于分子晶体．
解答 解：CO2是分子晶体，CO2的熔化与C=O键能没有关系，其熔化只需要克服范德华力（分子间作用力），SiO2是原子晶体，其熔化要破坏Si-O共价键，共价键的强度远远大于范德华力，故ABC错误，故选D．
点评 本题考查晶体类型与熔沸点关系，明确常见晶体类型是解本题关键，晶体类型不同导致其熔沸点不同，熟悉常见原子晶体有哪些，题目难度不大．
练习册系列答案
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10．下列试剂能贮存在磨口玻璃塞的玻璃试剂瓶里的是（ ）
| A． | 烧碱溶液 | B． | 硝酸 | C． | 氢氟酸 | D． | 水玻璃 |
11．下列叙述不正确的是（ ）
| A． | 天然气和沼气的主要成分是甲烷 | |
| B． | 所有糖类物质都有甜味 | |
| C． | 纤维素乙酸酯、油脂和蛋白质在一定条件下都能水解 | |
| D． | 葡萄糖和蔗糖都含有C、H、O三种元素，但不是同系物 |
8．
W、X、Y、Z是四种常见的短周期元素，其原子半径随原子序数的变化如图所示．已知W的一种核素的质量数为18，中子数为10；X是短周期元素中原子半径最大的；Y的单质是一种常见的半导体材料；Z的非金属性在同周期元素中最强．下列说法不正确的是（ ）
W、X、Y、Z是四种常见的短周期元素，其原子半径随原子序数的变化如图所示．已知W的一种核素的质量数为18，中子数为10；X是短周期元素中原子半径最大的；Y的单质是一种常见的半导体材料；Z的非金属性在同周期元素中最强．下列说法不正确的是（ ）| A． | 简单离子半径：W＞X＞Z | |
| B． | 最简单气态氢化物的稳定性：Y＜Z | |
| C． | 化合物XZW中既含离子键又含共价键 | |
| D． | Y的氧化物能与X的最高价氧化物对应的水化物反应 |
5．下列有关实验操作正确的是（ ）
| A． | 蒸馏实验中温度计的水银球应插入液态混合物中 | |
| B． | 用酒精萃取碘水中的碘 | |
| C． | 分液时，打开旋塞，使下层液体从下口流出，上层液体从上口倒出 | |
| D． | 开始蒸馏时，应该先加热，再开冷凝水；蒸馏完毕，应先关冷凝水再撤酒精灯 |
12．除去下列溶液中的杂质（括号内是杂质），下列选项中所用试剂错误的是（ ）
| A． | NaOH[Ba（OH）2]：使用Na2SO4溶液 | B． | KOH（K2SO4）：使用Ba（OH）2溶液 | ||
| C． | NaCl（Na2SO4）：使用Ba（NO3）2溶液 | D． | HNO3（HCl）：使用AgNO3溶液 |
2．如图所示是分离混合物时常用的仪器，从左至右，说法错误的是（ ）
| A． | 仪器C是圆底烧瓶，加热时，液体量不超过容积的$\frac{2}{3}$，不少于容积的$\frac{1}{3}$ | |
| B． | 仪器b是直型冷凝管 | |
| C． | 仪器b中冷却水的进出方向是“下进上出” | |
| D． | 进行蒸馏操作时，温度计的下端不能放在液面以下 |