题目内容

某植物高秆(D)对矮秆(d)显性,抗锈病(T)对易感病(t)显性,两对基因位于两对同源染色体上。下列对DdTt和Ddtt杂交后代的预测中错误的是
A.由于等位基因分离,后代可出现矮秆类型
B.由于基因重组,后代可出现矮秆抗锈病类型
C.由于基因突变,后代可出现DDdTt类型
D.由于自然选择,后代的T基因频率可能上升

C

解析试题分析:由“某植物高秆(D)对矮秆(d)显性,抗锈病(T)对易感病(t)显性,两对基因位于两对同源染色体上”,分析高杆与矮杆这对性状可知Dd X Dd→3D_高杆   1dd矮杆,是等位基因分离导致;A正确。DdTt X Ddtt→D_T_   D_tt    ddT_    ddtt,后代出现矮杆抗锈病是基因重组的结果;B正确。后代可出现DDdTt类型是染色体变异导致;C错误。抗锈病的在有相应病原体的选择下,存活下来的几率大,可使后代的T基因频率可能上升;D正确。
考点:本题考查遗传规律的应用及进化知识,意在考查运用所学知识进行分析、推理、判断的能力。

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