摘要:利用薄膜干涉的原理可以用干涉法检查平面和制造增透 膜.回答以下两个问题: (1)用图13-2-7所示的装置检查平面时.是利用了哪两 个表面反射光形成的薄膜干涉图样? (2)为了减少光在透镜表面由于反射带来的损失.可在 透镜表面涂上一层增透膜.一般用折射率为1.38的氟化镁.为了使波长为5.52×10 -7 m的绿光在垂直表面入射时使反射光干涉相消.求所涂的这种增透膜的厚度. 解析:(1)干涉图样是标准样板和被检查平面间空气膜即b.c面反射光叠加形成的. (2)设绿光在真空中波长为λ0.在增透膜中的波长为λ.由折射率与光速的关系和光 速与波长及频率的关系得: n=== 即λ=.那么增透膜厚度 h=λ== m=1×10-7 m. 答案:见解析

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